實驗室在進行精密實驗或測量時，環(huán)境振動源的影響很容易成為一個問題。一些實驗可能由于輕微振動的影響而無法進行。例如，許多激光應用需要幾微米的光束腰；如果光斑的位置對系統(tǒng)性能十分關鍵，那么幾微米振幅的振動也會造成實驗的失敗。

　　由于可見光的波長為次微米級，在振動存在的情況下，即使是次微米的振幅，也會造成基于干涉測量的實驗(包括全息攝影術)無法進行。半導體晶片的光學/機械加工或探測都要求類似的穩(wěn)定性。除了外部振動源的影響以外，如果實驗用到位移或振動部件，也常常需要把這些元件和其他振動敏感的部件進行隔離。

　　精密光學平臺就是為了解決這一問題產(chǎn)生的，它采用主動或被動的隔振措施隔離振動，提供水平、穩(wěn)定的臺面。保證實驗或測量不受振動因素。產(chǎn)品特性：

　　●大型光學隔振平臺，外框采用剛性強、變形小、焊接性能好的優(yōu)質(zhì)中碳鋼板；

　　●隔振層利用固有頻率低、阻振性能強的蜂窩結構材料，能較大限度控制振動的響應；

　　●面板采用高導磁不銹鋼板，精磨后具有實用、美觀和耐磨等特點；

　　●隔振支架采用復合材料，固體阻尼隔振，結構穩(wěn)固可靠，適用于環(huán)境震動良好的實驗場所。

　　精密光學平臺品質(zhì)鑒定：

　　1、檢查外觀

　　光學平臺外觀應平整美觀，各部位都應無影響安全的銳角及銳邊，更重要的是檢查孔口倒角是否均勻一致(螺孔旋入后應垂直平臺面)，四邊及其倒角是否平直一致。如果加工精度不好，會出現(xiàn)孔口倒角大小不一致或臺面四周倒角不平滑的情況。

　　2、固有頻率(≤2Hz)

　　固有頻率也稱自然頻率、自振頻率，只有在環(huán)境擾動力頻率(f)與光學平臺的固有頻率(fo)的比值f/fo>2時系統(tǒng)才有隔振作用。所以光學平臺的固有頻率越低，隔振效果效果就越好。該指標的檢測一般采用振動頻譜分析儀及便攜式振動分析儀來進行多點測量，如供應商不具備儀器測量，也可用以下方法：

　　用手用力壓下(或側(cè)推)平臺，然后迅速松開，讓其大幅度上下振動(或左右、前后擺動)起來；如一秒鐘內(nèi)往復一次即為1Hz，二次即為2Hz，依此類推。須可粗略測得光學平臺的固有頻率。